Dominio III — ASQ CRE Body of Knowledge 2025

Probabilidad y Estadística
para Confiabilidad

El lenguaje matemático de la confiabilidad: distribuciones, funciones de falla, curva de bañera, intervalos de confianza, SPC y FRACAS. Basado en el CRE Primer del Quality Council of Indiana y el BoK 2025 de ASQ.

CRE Primer — QCI 5ª Ed. 2018 ASQ CRE BoK 2025 — Dominio III Weibull · Normal · Exponencial SPC · Cp · Cpk · FRACAS
7
Subtemas BoK
35
Preguntas examen
β
Parámetro Weibull
4
Funciones prob.
R(t)
Función confiabilidad
BoK III.A.1 — Estadística básica

Conceptos Estadísticos Fundamentales

La estadística proporciona el lenguaje formal con el que el ingeniero de confiabilidad describe, cuantifica y comunica el comportamiento de los sistemas a lo largo del tiempo. Antes de modelar la falla, hay que dominar las herramientas descriptivas básicas.

La mayoría de las teorías de calidad y confiabilidad utilizan la estadística para hacer inferencias sobre una población a partir de información contenida en muestras. El mecanismo que permite estas inferencias es la probabilidad. Un estadístico es un valor numérico tomado de una muestra que puede usarse para hacer inferencias sobre la población; un parámetro es el verdadero valor poblacional, con frecuencia desconocido, estimado por el estadístico.

Medidas de tendencia central

Primera medida
Media (X̄)
El total de todos los valores de datos dividido por el número de puntos de datos. Es el centro de gravedad de los datos, usa todos los datos y no requiere ordenamiento previo.
Desventaja clave
Los valores extremos pueden distorsionar la imagen. En una distribución normal, Media = Mediana = Moda.
Segunda medida
Mediana
El valor central cuando los datos se ordenan de forma ascendente o descendente. Para conjuntos de datos pares, es el promedio de los dos valores centrales.
Ventaja clave
Insensible a valores extremos. Proporciona una idea de dónde se concentra la mayoría de los datos.
Tercera medida
Moda
El número que ocurre con mayor frecuencia en un conjunto de datos. No requiere cálculos ni ordenamiento, y puede detectarse visualmente en gráficos de distribución.
Restricción clave
Los datos pueden no tener moda, o pueden tener más de una moda (distribuciones bimodales o multimodales).

Medidas de dispersión

Dispersión I
Rango (R)
La diferencia entre el valor más grande y el más pequeño en el conjunto de datos. Simple y rápido de calcular; base de los gráficos X̄-R en SPC.
Dispersión II
Varianza (σ², s²)
La suma de las desviaciones cuadradas respecto a la media, dividida por el tamaño de la muestra (n–1 para muestras). Igual a la desviación estándar al cuadrado.
Dispersión III
Desv. Estándar (σ, s)
La raíz cuadrada de la varianza. Se usa N para poblaciones y n–1 para muestras (para eliminar sesgo potencial en muestras relativamente pequeñas, menores de 30).
Teorema del Límite Central

Si una variable aleatoria X tiene media μ y varianza finita σ², a medida que n aumenta, X̄ se aproxima a una distribución normal con media μ y varianza σ²/n. La importancia práctica: la distribución de las medias muestrales se aproxima a la normalidad independientemente de la forma de la distribución de la población — razón por la que los gráficos X̄-R funcionan. Para la mayoría de las distribuciones, una muestra de tamaño 4 o 5 es suficiente para obtener una distribución de medias aproximadamente normal.

BoK III.A.2 — Conceptos de probabilidad

Conceptos Básicos de Probabilidad

La probabilidad es el mecanismo matemático que transforma datos de muestras en inferencias sobre poblaciones. Toda decisión cuantitativa en confiabilidad descansa sobre sus fundamentos.

La probabilidad de cualquier evento E se sitúa entre 0 y 1. La suma de las probabilidades de todos los eventos posibles en un espacio muestral S es igual a 1. Cuando un experimento se repite un número grande de veces N y el evento E se observa n_E veces, la probabilidad de E es aproximadamente n_E/N.

Ley aditiva
Unión (OR)
P(A∪B) = P(A) + P(B) – P(A∩B) para eventos no mutuamente excluyentes. Si son mutuamente excluyentes: P(A∪B) = P(A) + P(B). Los problemas se centran en la palabra "o".
Ley multiplicativa
Intersección (AND)
Para eventos independientes: P(A∩B) = P(A) × P(B). Para eventos dependientes: P(A∩B) = P(A|B) · P(B). Los problemas se centran en la palabra "y". Ejemplo: dos relevadores en serie, probabilidad de que el circuito funcione = P(A) × P(B).
Conteo
Comb. y Perm.
Combinaciones C(n,r) = n!/[r!(n–r)!]: cuando el orden no importa. Permutaciones P(n,r) = n!/(n–r)!: arreglos ordenados. Las permutaciones se usan para ordenamientos donde el orden es relevante (rankings, secuencias).
Probabilidad condicional

Cuando los eventos A y B son dependientes, la probabilidad de A influye en la probabilidad de B. La probabilidad condicional P(A|B) — la probabilidad de A dado que B ha ocurrido — reduce el espacio muestral. Matemáticamente: P(A|B) = P(A∩B)/P(B). Este concepto es fundamental para el análisis de sistemas en serie y paralelo, y para entender la independencia estadística requerida en el cálculo de confiabilidad de sistemas compuestos.

BoK III.A.3 — Distribuciones de probabilidad

Distribuciones de Probabilidad

Las distribuciones estadísticas son los modelos matemáticos que describen el comportamiento de los tiempos a falla, las resistencias de materiales y los recuentos de defectos. La selección correcta de la distribución es la primera decisión crítica del análisis de confiabilidad.

Las distribuciones estadísticas se dividen en dos categorías: distribuciones de modelado, usadas para describir conjuntos de datos (continuas y discretas), y distribuciones de muestreo, usadas para construir intervalos de confianza y probar hipótesis. Las distribuciones continuas incluyen datos de variables con infinitos puntos posibles; las discretas surgen de datos contables con un número finito de valores posibles.

Continua
Distribución de Weibull
Parámetros: β (forma) · η (escala) · γ (localización)
La distribución más versátil y ampliamente usada en confiabilidad. Modela tiempos a falla, tiempos a reparación y resistencia de materiales. Su flexibilidad proviene del parámetro de forma β: cuando β<1, la tasa de falla es decreciente (mortalidad infantil); cuando β=1, es idéntica a la distribución exponencial (tasa constante); cuando β>1, la tasa de falla es creciente (desgaste). Con β entre 3 y 4, aproxima la distribución normal.

El 63.2% de todos los valores cae por debajo de la vida característica (η), independientemente del valor del parámetro de forma — una propiedad única de la Weibull.
R(x) = e^–(x/η)^β · Aplicación: mortalidad infantil, vida útil, desgaste
Continua
Distribución Normal
Parámetros: μ (media) · σ (desviación estándar)
La distribución más conocida en estadística. La función de densidad de probabilidad normal no está sesgada y es simétrica respecto a μ. La distribución normal estándar tiene media 0 y desviación estándar 1. La transformación Z = (x–μ)/σ convierte cualquier variable normal a su equivalente estándar, permitiendo el uso de tablas de probabilidad normalizadas.

La función de riesgo de la distribución normal es monótonamente creciente — lo que la hace apropiada para modelar la fase de desgaste de productos con vida útil bien definida (tornillos, rodamientos, estructuras).
Z = (x – μ)/σ · Aplicación: resistencia de materiales, mediciones de proceso
Continua
Distribución Lognormal
Parámetros: μ (log-media) · σ (log-desv. estándar)
Si un conjunto de datos sigue una distribución lognormal, transformar los datos tomando el logaritmo produce un conjunto de datos aproximadamente normalmente distribuido. Cuando variables aleatorias se multiplican (en lugar de sumarse), la distribución del producto se aproxima a una lognormal.

La función de riesgo de la lognormal tiene un comportamiento único: aumenta inicialmente, luego disminuye y eventualmente se aproxima a cero. Esto significa que los ítems con distribución lognormal tienen mayor probabilidad de falla al envejecer durante algún período, pero después de sobrevivir a una edad específica, la probabilidad de falla disminuye. Muy usada en fatiga de materiales.
ln(x) → Normal · Aplicación: fatiga, corrosión, crack growth
Continua
Distribución Exponencial
Parámetro: λ (tasa de falla) · θ = 1/λ (media)
La distribución exponencial modela ítems con una tasa de falla constante — típicamente componentes electrónicos durante la fase de vida útil. Su característica más importante es la falta de memoria: la probabilidad de supervivencia durante un intervalo de tiempo, dado que ha sobrevivido hasta el inicio del intervalo, depende SOLO de la longitud del intervalo, no del momento de inicio.

Es la única distribución caracterizada por una función de riesgo completamente constante h(x) = λ. Esta propiedad simplifica enormemente los cálculos de mantenibilidad y disponibilidad, razón por la que el MTBF asume implícitamente una distribución exponencial en la mayoría de sus aplicaciones.
R(x) = e^–λx · h(x) = λ = constante · Aplicación: electrónica, vida útil

El Parámetro de Forma Weibull y la Curva de Bañera

Valor de β Distribución equivalente Fase de la curva de bañera Descripción de la tasa de falla
β < 1 Mortalidad infantil Tasa de falla decreciente. Fallas por defectos de fabricación, componentes con defectos latentes. Se corrige con burn-in.
β = 1 Exponencial (idéntica) Vida útil (zona plana) Tasa de falla constante. Fallas aleatorias e independientes. Ausencia de memoria. Base del cálculo de MTBF.
β = 2 Rayleigh Inicio del desgaste Tasa de falla que aumenta linealmente. Indica desgaste moderado. Útil para fallas mecánicas por fricción.
β = 3–4 Aproxima Normal Desgaste pronunciado Tasa de falla creciente. Desgaste significativo. Vida de diseño bien definida. Facilita planificación de PM.
β > 4 Desgaste acelerado Tasa de falla aumenta rápidamente. Distribución muy estrecha. Alta predictibilidad de la vida hasta falla.

Fuente: CRE Primer, Quality Council of Indiana — Sección IV, III.A.3. Reliability Toolkit (1993).

La trampa del MTTF — Ejemplo del CRE Primer

El CRE Primer presenta un ejemplo fundamental: el Componente A tiene un MTTF de 4,645 horas (β=0.8) y el Componente B tiene un MTTF de solo 300 horas (β=3). A pesar de que el MTTF del Componente A es más de 10 veces mayor, la confiabilidad del Componente B a 100 horas es mayor (0.974 vs 0.95). A 1,000 horas, el Componente B tiene confiabilidad prácticamente cero, mientras que A tiene 0.723. Conclusión: el MTTF sin conocer el parámetro de forma es una medida engañosa. Para lograr la misma confiabilidad con mayor varianza se requiere una media más grande.

Distribuciones Discretas

Poisson
Datos de conteo y tasas
Modela tasas: defectos por unidad, fallas por hora, llegadas por período. Estrechamente relacionada con la distribución exponencial: si x es Poisson, entonces 1/x es exponencial. La media y varianza de la distribución Poisson son ambas iguales a μ. Usada como aproximación a la binomial cuando p < 0.1 y n ≥ 16.
Binomial
Dos resultados posibles
Modela situaciones con solo dos resultados posibles (éxito o falla). El número de ensayos debe ser fijo y la probabilidad de éxito igual para todos los ensayos (muestreo con reemplazo). Puede aproximarse por la distribución normal cuando np ≥ 5. Media = np; varianza = np(1–p).
Hipergeométrica
Muestreo sin reemplazo
Similar a la binomial, pero la probabilidad de éxito cambia en cada extracción (muestreo sin reemplazo). Se aplica cuando la muestra n es una proporción relativamente grande de la población N (n > 10% de N) o cuando el número de defectos d es conocido. La binomial es una aproximación aceptable cuando N es muy grande respecto a n.
BoK III.A.4 — Funciones de probabilidad

Las Cuatro Funciones de Probabilidad

Cualquier distribución de probabilidad puede describirse completamente mediante cuatro funciones. Si se conoce cualquiera de ellas, las otras tres pueden derivarse matemáticamente.

f(t)
Función de Densidad de Probabilidad
Describe el comportamiento de la variable aleatoria. El área bajo la curva hasta un valor x es la probabilidad de que la variable sea menor que x. El área total bajo la curva = 1.
f(t) ≥ 0 · ∫f(t)dt = 1
F(t)
Función de Distribución Acumulada
Denota el área bajo la función de densidad a la izquierda de t. Representa la probabilidad de falla acumulada hasta el tiempo t. Aumenta de 0 a 1 a medida que t aumenta.
F(t) = ∫₀ᵗ f(u)du · F(t) + R(t) = 1
R(t)
Función de Confiabilidad
El complemento de F(t). Cuando se modela el tiempo a falla, representa la probabilidad de supervivencia. Disminuye de 1 a 0 a medida que t aumenta. Es la medida fundamental de confiabilidad.
R(t) = ∫ₜ∞ f(u)du = 1 – F(t)
h(t)
Función de Riesgo (Hazard)
La tasa de falla instantánea en un intervalo muy pequeño dado la supervivencia hasta el inicio del intervalo. A mayor valor, mayor probabilidad de falla inminente. Define la forma de la curva de bañera.
h(t) = f(t)/R(t) · R(t) = e^–∫h(t)dt
Relación entre las cuatro funciones — Ejemplo exponencial

Para la distribución exponencial con tasa de falla constante λ: f(t) = λe^–λt · F(t) = 1–e^–λt · R(t) = e^–λt · h(t) = λ (constante). Este es el único caso donde h(t) es absolutamente constante — la llamada "falta de memoria". Para un resistor con λ=0.04 fallas/hora: R(100h) = e^–0.04(100) = 0.0183. Es decir, solo el 1.83% de los resistores sobrevive 100 horas. Si se prueban 100 resistores, aproximadamente 63 estarán en estado de falla después de 25 horas.

BoK III.A.5 — Planes de muestreo

Muestreo y Datos Censurados

En pruebas de confiabilidad, raramente es posible probar todos los ítems hasta la falla. Los datos censurados — donde solo se conoce que el tiempo a falla es mayor o menor que un valor dado — requieren técnicas estadísticas especiales para ser analizados correctamente.

Para que los métodos estadísticos sean válidos, todas las muestras deben elegirse aleatoriamente. Cuando las pruebas se terminan antes de que todos los ítems fallen, la aleatoriedad de la muestra queda destruida. Los 10 ítems que fallaron primero no constituyen una muestra aleatoria representativa de la población — son, de hecho, los 10 ítems con los menores tiempos a falla.

Censura a derecha
Right censoring
El tiempo a falla no se conoce, pero se sabe que es mayor que un valor dado. La prueba se termina y algunos ítems aún no han fallado. Es el tipo más común en pruebas de vida de productos.
Censura Tipo I (Tiempo)
Time censoring
La prueba se termina después de un tiempo predeterminado. Permite programar cuándo finalizará la prueba. El número de fallas no se conoce de antemano. También llamada censura por tiempo.
Censura Tipo II (Fallas)
Failure censoring
La prueba se termina después de un número predeterminado de fallas. Permite planificar el número máximo de unidades requeridas. Produce intervalos de confianza más estrechos cuantas más fallas se permiten.
Tamaño de muestra requerido — Variable vs. Atributo

El tamaño de muestra n para pruebas de hipótesis depende de: el riesgo tipo I (α) y tipo II (β) deseado, la diferencia mínima a detectar entre medias (μ–μ₀), y la variación en la característica medida. Para datos de variables con distribución normal: n = (Zα·σ/δ)². Para datos de atributos (binomiales): n = Z²·p̂(1–p̂)/(Δp)². La selección del tamaño de muestra correcto es la diferencia entre una prueba que informa y una que solo consume recursos.

BoK III.A.6 — SPC y capacidad del proceso

Control Estadístico de Proceso y Capacidad

El SPC es la técnica que aplica el análisis estadístico para medir, monitorear y controlar procesos. La consistencia y predictibilidad que genera ejercen un impacto positivo directo sobre todos los aspectos de la confiabilidad.

El principio fundamental del SPC: todos los procesos están sujetos a variación. Esta variación puede clasificarse en dos tipos: variación por causa aleatoria (inherente al proceso, inevitable sin cambios fundamentales) y variación por causa asignable (especial, debida a factores identificables y eliminables). Cuando solo existe variación aleatoria, el proceso está en control estadístico y es predecible.

Gráficas para Variables
Grafican mediciones específicas de una característica del proceso (temperatura, dimensión, peso, etc.). Son las más informativas y costosas, ya que cada variable medida requiere recolección y análisis de datos. Proporcionan la mayor sensibilidad a cambios del proceso.
X̄–R chart X̄–S chart I–MR chart Run chart Median chart
Gráficas para Atributos
Grafican mediciones generales del proceso total (número de defectos por unidad, órdenes a tiempo, errores por lote, etc.). Requieren tamaños de muestra mayores (normalmente >50 para gráficas p). Los defectos se categorizan frecuentemente en formato Pareto para identificar los pocos vitales.
p chart (fracción defectiva) np chart c chart u chart

Índices de Capacidad del Proceso: Cp y Cpk

Índice de Capacidad — Proceso Centrado
Cp = (USL – LSL) / 6σ_R
Cp > 1.33 → Capaz
Cp = 1.00 a 1.33 → Capaz con control estricto
Cp < 1.00 → Incapaz

Cp mide el potencial del proceso si estuviera perfectamente centrado entre los límites de especificación. No considera la posición real del promedio del proceso.
Índice de Capacidad — Proceso Descentrado
Cpk = min[(USL–X̄)/3σ_R, (X̄–LSL)/3σ_R]
Cpk es el índice que da el menor resultado entre las dos expresiones — la distancia del promedio al límite más cercano, dividida por 3σ. Ajusta la capacidad para reflejar el descentramiento actual del proceso.

Cuando Cp = Cpk, el proceso está perfectamente centrado. Cuando Cpk < Cp, el proceso está descentrado respecto a los límites de especificación.

Tasas de Falla por Valor de Cp

Cp Valor Z ppm (defectos/millón) Interpretación
0.672.0045,500Proceso muy incapaz
1.003.002,700Límite mínimo aceptable
1.334.0063Capaz — estándar industrial
1.504.506.8Capaz — nivel demandado
1.675.000.57Alta capacidad
2.006.000.002Seis Sigma — calidad de clase mundial

Fuente: CRE Primer, Tabla 4.48 — Tasas de falla para Cp y valores Z. Los ppm son válidos cuando el proceso está centrado, tiene especificación bilateral, distribución normal y sin desplazamientos significativos.

El valor Z y la transformación normal

La transformación Z = (x–μ)/σ convierte los valores originales al número de desviaciones estándar respecto a la media, permitiendo usar una sola tabla normal estándar para describir áreas bajo la curva. Para el análisis de capacidad: Z_UPPER = (USL–X̄)/σ y Z_LOWER = (X̄–LSL)/σ. La tasa de falla total es la suma de las áreas fuera de especificación en ambos extremos de la distribución.

BoK III.A.7 — Intervalos de confianza y tolerancia

Intervalos de Confianza

Un intervalo de confianza traduce la incertidumbre inherente al muestreo en una afirmación probabilística: si el procedimiento se repitiera muchas veces, un porcentaje específico de los intervalos calculados contendría el verdadero parámetro poblacional.

Existen dos tipos principales de estimación: la estimación puntual — un único valor estimado como el promedio muestral — y la estimación por intervalo o intervalo de confianza — un rango dentro del cual se espera que caiga el parámetro poblacional. Un IC del 90% significa que el 90% de los intervalos calculados de esta manera contendrán el verdadero MTBF, mientras que el 10% no lo contendrá.

Media — Muestra grande
n ≥ 30 · Distribución Z
Usar la distribución normal: X̄ ± Z_(α/2) · σ/√n. Para 95% de confianza (bilateral), Z = 1.96. Ejemplo: si X̄=18, σ=6, n=100; IC al 95% = 16.82 < μ < 19.18. El término σ/√n es el error estándar de la media.
Media — Muestra pequeña
n < 30 · Distribución t
Usar la distribución t con n–1 grados de libertad: X̄ ± t_(α/2) · S/√n. Para el mismo ejemplo con n=25 y t=2.064 (95%, 24 gdf): IC = 15.52 < μ < 20.48. El intervalo es más amplio que con muestra grande — refleja mayor incertidumbre.
Varianza — Chi-cuadrado
Asimétrico · χ² distribution
A diferencia de la media, el IC para la varianza no es simétrico respecto al estimador puntual, ya que se basa en la distribución Chi-cuadrado: (n–1)s²/χ²_(α) ≤ σ² ≤ (n–1)s²/χ²_(1–α). Ejemplo: con n=25, s²=36, IC 90% → 23.72 < σ² < 63.38.

Estimación del MTBF — Datos censurados y no censurados

Estimación puntual del MTBF
θ = T/r
Para datos no censurados (unidades probadas hasta falla): θ̂ = T/r, donde T es el tiempo total de prueba para todas las unidades (falladas y no falladas) y r es el número de fallas.

Ejemplo: tiempo total en prueba 1,760 horas con 13 fallas → θ̂ = 1,760/13 = 135.4 horas. La tasa de falla estimada λ̂ = r/T = 13/1,760 = 0.0074 fallas/hora.
IC del MTBF — Distribución Chi-cuadrado
2T/χ²_(α,2r+2) ≤ θ ≤ 2T/χ²_(1–α,2r)
La distribución chi-cuadrado se usa para calcular el IC del MTBF. La fórmula cambia según si la censura es por tiempo (Tipo I, 2r+2 gdf) o por fallas (Tipo II, 2r gdf).

Cuantas más fallas ocurran durante la prueba, más estrecho será el intervalo de confianza — más información disponible sobre el MTBF verdadero. Esta relación directa entre número de fallas e incertidumbre define las estrategias de prueba de confiabilidad.
"La confiabilidad es la probabilidad de funcionamiento libre de fallas durante un intervalo especificado bajo condiciones determinadas — una declaración inherentemente estadística que solo tiene significado cuando se cuantifica."
— CRE Primer, Quality Council of Indiana — Adaptado de MIL-STD-721C (1981)
BoK III.B — Gestión de datos · III.B.6 — FRACAS

FRACAS — El Sistema de Retroalimentación de Fallas

El FRACAS es el sistema que cierra el ciclo entre la falla que ocurre en el campo y la mejora que se implementa en el diseño. Sin él, la misma falla se repite indefinidamente.

El propósito del Failure Reporting, Analysis and Corrective Action System (FRACAS) es proporcionar un sistema cerrado de reporte de fallas, procedimientos para el análisis de fallas que determinen la causa raíz, y documentación para registrar la acción correctiva. Es el eslabón entre el análisis estadístico de fallas y la acción de mejora en diseño, manufactura y pruebas.

Clasificación de fallas en FRACAS

Las fallas se clasifican en dos dimensiones. Primero, como relevantes (pueden ocurrir en el campo) o no relevantes (imposibles en condiciones de campo). Segundo, por severidad: críticas (dejan el sistema inoperable), mayores (degradan el desempeño pero el sistema sigue operando) o menores (el sistema permanece completamente funcional). Esta clasificación determina la prioridad de la acción correctiva y el nivel de escalamiento a la dirección.

Fuentes de datos de confiabilidad para análisis

Fuente I
Datos internos
Registros de análisis de fallas, informes de prueba de confiabilidad, resultados de manufactura, fallas en manufactura y rendimientos, registros de mantenimiento preventivo, acciones de garantía o reparación, solicitudes de soporte.
Fuente II
Datos de campo
Devoluciones de garantía, quejas de clientes, información de representantes de campo, datos de distribuidores. Las fallas de campo son la fuente de datos más valiosa para la empresa diseñadora porque reflejan el uso real en condiciones reales.
Fuente III
Datos externos
Datos de industria (IEEE), GIDEP (Government-Industry Data Exchange Program), datos de la NASA, DOE, Reliability Analysis Center. El GIDEP provee datos de falla, modos de falla y tasas de reemplazo de partes basados en pruebas de demostración e información de desempeño en campo.
Síntesis del Dominio III

El Dominio III como Fundamento Cuantitativo

La probabilidad y la estadística no son un módulo teórico del CRE — son el lenguaje común que hace posible toda decisión cuantitativa en confiabilidad.

El Dominio III del BoK 2025 comprende 35 preguntas del examen CRE — el dominio de mayor peso. Esta asignación refleja la realidad de la práctica: sin estadística, el ingeniero de confiabilidad no puede modelar el comportamiento de los componentes, calcular el MTBF con intervalos de confianza que tengan significado, determinar si un proceso es capaz de satisfacer los requisitos de confiabilidad, ni cerrar el ciclo de mejora mediante el análisis sistemático de datos de falla.

La arquitectura del Dominio III conecta siete subtemas en una cadena de valor: las herramientas descriptivas (estadística básica) caracterizan los datos; la probabilidad permite cuantificar la incertidumbre; las distribuciones modelan los tiempos a falla; las funciones de probabilidad traducen el modelo en métricas de confiabilidad (R, F, h); el muestreo define cómo obtener datos válidos; el SPC y la capacidad monitorean el desempeño del proceso de manufactura; y los intervalos de confianza y FRACAS cierran el ciclo entre la evidencia estadística y la acción de mejora.

Para el candidato al examen CRE

El Dominio III del CRE BoK 2025 incluye nuevos subtemas respecto a versiones anteriores del BoK. Asegúrese de estudiar la versión 2025 del Body of Knowledge disponible en asq.org/cert/reliability-engineer y el CRE Handbook 4ª edición (2025) de Mary McShane-Vaughn y Karen Hulting, el único libro de texto oficial organizado según el BoK 2025, y el único que puede llevarse al examen de libro abierto. Las distribuciones de Weibull, normal, lognormal y exponencial son las más frecuentemente evaluadas, junto con los conceptos de RPN, Cp, Cpk y MTBF con intervalos de confianza.